المحتويات الرئيسية للبرنامج:
- Semiconductor test system
- Computer aided circuit testers
- Board / IC / component related failures
- Short locators
- In circuit functional test ” power on functional testing of digital devices
- In circuit analog devices testing
- Digital logic testing & simulation
- Memory testing
شروط الإلتحاق بالدورة
الحضور المسبق للدورتين الآتيتين في مجال الإلكترونيات المتقدمة
- الدوائر الإلكترونية التماثلية المتقدمة
- الدوائر الإلكترونية الرقمية المتقدمة
اللغة المستخدمة : العربية أو الانجيليزية
عدد ساعات التدريب : (15 ) ساعة